Cycle time prediction in the Wafer Test Fab of a semiconductor manufacturing plant using an artificial neural network model
![Thumbnail](/xmlui/bitstream/handle/11615/52244/20272.pdf.jpg?sequence=3&isAllowed=y)
Προβολή/ Άνοιγμα
Συγγραφέας
Λογοθέτης, Γεώργιος Α.Όνομα μέλους επιτροπής
Παντελής, Δημήτριος
Σαχαρίδης, Γεώργιος
Όνομα Επιβλέποντος
Λυμπερόπουλος, Γεώργιος
Ημερομηνία
2020Γλώσσα
en
Σημειώσεις
Σημείωση διαθέτη: το περιεχόμενο έχει λογοκριθεί από το/τη συγγραφέα.
Πρόσβαση
ελεύθερη
Ακαδημαϊκός Εκδότης
Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανολόγων Μηχανικών.