Toggle navigation
English
Ελληνικά
Deutsch
français
italiano
español
français
English
Ελληνικά
Deutsch
français
italiano
español
Ouvrir une session
Toggle navigation
Voir le document
Accueil de DSpace
Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης
Διπλωματικές/Πτυχιακές Εργασίες ΠΘ
Voir le document
Accueil de DSpace
Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης
Διπλωματικές/Πτυχιακές Εργασίες ΠΘ
Voir le document
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Tout DSpace
Communautés & Collections
Par date de publication
Auteurs
Titres
Sujets
Cycle time prediction in the Wafer Test Fab of a semiconductor manufacturing plant using an artificial neural network model
Voir/
Ouvrir
20272.pdf (3.570Mo)
Auteur
Λογοθέτης, Γεώργιος Α.
Committee member
Παντελής, Δημήτριος
Σαχαρίδης, Γεώργιος
Supervisor name
Λυμπερόπουλος, Γεώργιος
Date
2020
Language
en
Sujet
Ημιαγωγοί
Βιομηχανία κατασκευών
Ηλεκτρονική επεξεργασία δεδομένων
Νευρωνικά δίκτυα
Description
Σημείωση διαθέτη: το περιεχόμενο έχει λογοκριθεί από το/τη συγγραφέα.
Access
free
Afficher la notice complète
Academic publisher
Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανολόγων Μηχανικών.
URI
http://hdl.handle.net/11615/52244
Collections
Διπλωματικές/Πτυχιακές Εργασίες (ΤΜΜ)
[953]
Διπλωματικές/Πτυχιακές Εργασίες ΠΘ
[10038]
Excepté là où spécifié autrement, la license de ce document est décrite en tant que Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International
Chercher dans le dépôt
Cette collection
Parcourir
Tout DSpace
Communautés & Collections
Par date de publication
Auteurs
Titres
Sujets
Cette collection
Par date de publication
Auteurs
Titres
Sujets
Mon compte
Ouvrir une session
S'inscrire
Help Contact
Deposition
About
Help
Contactez-nous
Choose Language
Tout DSpace
English
Ελληνικά