Cycle time prediction in the Wafer Test Fab of a semiconductor manufacturing plant using an artificial neural network model
View/
Committee member
Παντελής, Δημήτριος
Σαχαρίδης, Γεώργιος
Supervisor name
Λυμπερόπουλος, Γεώργιος
Date
2020Language
en
Notes
Σημείωση διαθέτη: το περιεχόμενο έχει λογοκριθεί από το/τη συγγραφέα.
Access
free
Academic publisher
Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανολόγων Μηχανικών.
Collections
Except where otherwise noted, this item's license is
described as
Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International