Cycle time prediction in the Wafer Test Fab of a semiconductor manufacturing plant using an artificial neural network model
Ver/
Committee member
Παντελής, Δημήτριος
Σαχαρίδης, Γεώργιος
Supervisor name
Λυμπερόπουλος, Γεώργιος
Fecha
2020Language
en
Descripción
Σημείωση διαθέτη: το περιεχόμενο έχει λογοκριθεί από το/τη συγγραφέα.
Access
free
Academic publisher
Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανολόγων Μηχανικών.
Colecciones
Excepto si se señala otra cosa, la licencia del ítem se describe como Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International