dc.contributor.advisor | Λυμπερόπουλος, Γεώργιος | el |
dc.creator | Λογοθέτης, Γεώργιος Α. | el |
dc.date.accessioned | 2020-04-06T09:41:32Z | |
dc.date.available | 2020-04-06T09:41:32Z | |
dc.date.issued | 2020 | |
dc.identifier.other | 20272 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11615/52244 | |
dc.description | Σημείωση διαθέτη: το περιεχόμενο έχει λογοκριθεί από το/τη συγγραφέα. | el |
dc.language.iso | en | en |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International | en |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ | en |
dc.subject.other | Ημιαγωγοί | el |
dc.subject.other | Βιομηχανία κατασκευών | el |
dc.subject.other | Ηλεκτρονική επεξεργασία δεδομένων | el |
dc.subject.other | Νευρωνικά δίκτυα | el |
dc.title | Cycle time prediction in the Wafer Test Fab of a semiconductor manufacturing plant using an artificial neural network model | en |
dc.type | bachelorThesis | en |
heal.recordProvider | Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας - Βιβλιοθήκη και Κέντρο Πληροφόρησης | el |
heal.academicPublisher | Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανολόγων Μηχανικών. | el |
heal.academicPublisherID | uth | en |
heal.fullTextAvailability | true | en |
dc.rights.accessRights | free | en |
dc.contributor.committeeMember | Παντελής, Δημήτριος | el |
dc.contributor.committeeMember | Σαχαρίδης, Γεώργιος | el |