Cycle time prediction in the Wafer Test Fab of a semiconductor manufacturing plant using an artificial neural network model
Προβολή/
Όνομα μέλους επιτροπής
Παντελής, Δημήτριος
Σαχαρίδης, Γεώργιος
Όνομα Επιβλέποντος
Λυμπερόπουλος, Γεώργιος
Ημερομηνία
2020Γλώσσα
en
Σημειώσεις
Σημείωση διαθέτη: το περιεχόμενο έχει λογοκριθεί από το/τη συγγραφέα.
Πρόσβαση
ελεύθερη
Ακαδημαϊκός Εκδότης
Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανολόγων Μηχανικών.
Collections
Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International