Toggle navigation
English
Ελληνικά
Deutsch
français
italiano
español
italiano
English
Ελληνικά
Deutsch
français
italiano
español
Login
Toggle navigation
Mostra Item
DSpace Home
Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης
Διπλωματικές/Πτυχιακές Εργασίες ΠΘ
Mostra Item
DSpace Home
Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης
Διπλωματικές/Πτυχιακές Εργασίες ΠΘ
Mostra Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Tutto DSpace
Archivi & Collezioni
Data di pubblicazione
Autori
Titoli
Soggetti
Cryogenic semiconductor detectors: simulation of signal formation & irradiation beam test
Mostra/
Apri
14375.pdf (2.114Mb)
Autore
Αλεξόπουλος, Ανδρέας Γ.
Supervisor name
Σταμούλης, Γεώργιος
Βαβουγυιός, Διονύσιος
Sapinski, Mariusz
Data
2015
Language
en
Soggetto
Ημιαγωγοί
Ανιχνευτές
Διαμόρφωση σήματος
Τηλεπικοινωνιακά συστήματα
Ψηφιακές επικοινωνίες
Προσομοίωση, Μέθοδοί της
Access
free
Mostra tutti i dati dell'item
Academic publisher
Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών.
URI
http://hdl.handle.net/11615/48170
Collections
Διπλωματικές/Πτυχιακές Εργασίες (ΤΗΜΜΥ)
[1401]
Διπλωματικές/Πτυχιακές Εργασίες ΠΘ
[10370]
Except where otherwise noted, this item's license is described as Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International
Cerca in DSpace
Questa Collezione
Ricerca
Tutto DSpace
Archivi & Collezioni
Data di pubblicazione
Autori
Titoli
Soggetti
Questa Collezione
Data di pubblicazione
Autori
Titoli
Soggetti
My Account
Login
Registrazione
Help Contact
Deposition
About
Help
Contattaci
Choose Language
Tutto DSpace
English
Ελληνικά