Cryogenic semiconductor detectors: simulation of signal formation & irradiation beam test

dc.contributor.advisor	Σταμούλης, Γεώργιος	el
dc.contributor.advisor	Βαβουγυιός, Διονύσιος	el
dc.contributor.advisor	Sapinski, Mariusz	en
dc.creator	Αλεξόπουλος, Ανδρέας Γ.	el
dc.date.accessioned	2018-04-03T10:00:23Z
dc.date.available	2018-04-03T10:00:23Z
dc.date.issued	2015
dc.identifier.other	14375
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11615/48170
dc.language.iso	en	en
dc.rights	Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International	en
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/	en
dc.subject.other	Ημιαγωγοί	el
dc.subject.other	Ανιχνευτές	el
dc.subject.other	Διαμόρφωση σήματος	el
dc.subject.other	Τηλεπικοινωνιακά συστήματα	el
dc.subject.other	Ψηφιακές επικοινωνίες	el
dc.subject.other	Προσομοίωση, Μέθοδοί της	el
dc.title	Cryogenic semiconductor detectors: simulation of signal formation & irradiation beam test	en
dc.type	bachelorThesis	en
heal.recordProvider	Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας - Βιβλιοθήκη και Κέντρο Πληροφόρησης	el
heal.academicPublisher	Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών.	el
heal.academicPublisherID	uth	en
heal.fullTextAvailability	true	en
dc.rights.accessRights	free	en

Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International