Controlling point defects for nanoelectronic applications

Σπύρου, Άγγελος Κ.

Ελαττώματα σημείων ελέγχου για νανοηλεκτρονικές εφαρμογές

dc.contributor.advisor	Χροναίος, Αλέξανδρος	el
dc.contributor.author	Σπύρου, Άγγελος Κ.	el
dc.creator	Σπύρου, Άγγελος Κ.	el
dc.date.accessioned	2023-11-08T09:10:57Z
dc.date.available	2023-11-08T09:10:57Z
dc.date.issued	2023
dc.identifier.other	28364	en
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11615/82974
dc.language.iso	en	en
dc.rights	Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International	*
dc.rights	free	en
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/	*
dc.subject.other	Ημιαγωγοί -- Υλικά	el
dc.subject.other	Γερμάνιο -- Ηλεκτρικές ιδιότητες	el
dc.subject.other	Πυρίτιο -- Ηλεκτρικές ιδιότητες	el
dc.subject.other	Νανοηλεκτρονική	el
dc.title	Controlling point defects for nanoelectronic applications	en
dc.title	Ελαττώματα σημείων ελέγχου για νανοηλεκτρονικές εφαρμογές	el
dc.type	bachelorThesis	en
heal.recordProvider	Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας - Βιβλιοθήκη και Κέντρο Πληροφόρησης	el
heal.academicPublisher	Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών.	el
heal.academicPublisherID	uth
heal.fullTextAvailability	true	en
dc.rights.accessRights	free	en
dc.contributor.committeeMember	Δασκαλοπούλου, Ασπασία	el
dc.contributor.committeeMember	Τσαλαπάτα, Χαρίκλεια	el

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Name:: 28364.pdf
Μέγεθος:: 3.600Mb
Τύπος:: PDF

Προβολή/Άνοιγμα

Name:: license_rdf
Μέγεθος:: 805bytes
Τύπος:: application/rdf+xml

Προβολή/Άνοιγμα

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στις ακόλουθες συλλογές

Εμφάνιση απλής εγγραφής

Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International