Logo
    • English
    • Ελληνικά
    • Deutsch
    • français
    • italiano
    • español
  • Ελληνικά 
    • English
    • Ελληνικά
    • Deutsch
    • français
    • italiano
    • español
  • Σύνδεση
Προβολή τεκμηρίου 
  •   Ιδρυματικό Αποθετήριο Πανεπιστημίου Θεσσαλίας
  • Επιστημονικές Δημοσιεύσεις Μελών ΠΘ (ΕΔΠΘ)
  • Δημοσιεύσεις σε περιοδικά, συνέδρια, κεφάλαια βιβλίων κλπ.
  • Προβολή τεκμηρίου
  •   Ιδρυματικό Αποθετήριο Πανεπιστημίου Θεσσαλίας
  • Επιστημονικές Δημοσιεύσεις Μελών ΠΘ (ΕΔΠΘ)
  • Δημοσιεύσεις σε περιοδικά, συνέδρια, κεφάλαια βιβλίων κλπ.
  • Προβολή τεκμηρίου
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Ιδρυματικό Αποθετήριο Πανεπιστημίου Θεσσαλίας
Όλο το DSpace
  • Κοινότητες & Συλλογές
  • Ανά ημερομηνία δημοσίευσης
  • Συγγραφείς
  • Τίτλοι
  • Λέξεις κλειδιά

RADPlace-MS: A Timing-Driven Placer and Optimiser for ASICs Radiation Hardening

Thumbnail
Συγγραφέας
Georgakidis C., Simoglou S., Sotiriou C.
Ημερομηνία
2022
Γλώσσα
en
DOI
10.1109/DFT56152.2022.9962347
Λέξη-κλειδί
Application specific integrated circuits
Computer aided design
Hardening
Ionizing radiation
Timing circuits
Conventional design
Detailed placement
Electronic cells
Electronics circuits
Hardening process
Optimisations
Spacing constraint
Timing-driven
TMR
VLSI technology
Radiation hardening
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Εμφάνιση Μεταδεδομένων
Επιτομή
The manufacturing of modern Integrated Circuits (ICs), resistant against faults caused by ionising radiation, has become quite challenging due to the rapid advancement of VLSI technology. Additionally, the Radiation Hardening process, which involves making electronic cells and circuits resistant to damage or faults induced by ionising radiation, deviates from the conventional design flow. Thus, it generally suffers from insufficient support from industrial EDA tools. RADPlace is an academic timing-driven detailed placement algorithm that ensures spacing constraints among TMR triplet members. However, RADPlace, considering only the top critical paths of the circuit, limits the improvement in circuit timing, especially Total Negative Slack (TNS). In this work, we propose an improved RADPlace version (RADPlace-I) and a Multi-Step RADPlace version (RADPlace-MS), separating timing-driven optimisations from the placement step. Experimental results indicate that RADPlace-I achieves an average 21% improvement in Worst Negative Slack (WNS), while it achieves TNS improvement in most cases. On the other hand, RADPlace-MS achieves an average 54% and 45% improvement in WNS and TNS, respectively, compared to the original RADPlace version, with negligible impact on circuit total area and power. © 2022 IEEE.
URI
http://hdl.handle.net/11615/72041
Collections
  • Δημοσιεύσεις σε περιοδικά, συνέδρια, κεφάλαια βιβλίων κλπ. [19735]
htmlmap 

 

Πλοήγηση

Όλο το DSpaceΚοινότητες & ΣυλλογέςΑνά ημερομηνία δημοσίευσηςΣυγγραφείςΤίτλοιΛέξεις κλειδιάΑυτή η συλλογήΑνά ημερομηνία δημοσίευσηςΣυγγραφείςΤίτλοιΛέξεις κλειδιά

Ο λογαριασμός μου

ΣύνδεσηΕγγραφή (MyDSpace)
Πληροφορίες-Επικοινωνία
ΑπόθεσηΣχετικά μεΒοήθειαΕπικοινωνήστε μαζί μας
Επιλογή ΓλώσσαςΌλο το DSpace
EnglishΕλληνικά
htmlmap