Afficher la notice abrégée

dc.contributor.advisorΛυμπερόπουλος, Γεώργιοςel
dc.contributor.advisorΠαντελής, Δημήτριοςel
dc.contributor.advisorΣαχαρίδης, Γεώργιοςel
dc.creatorΣταματάκης, Απόστολος Γ.el
dc.creatorΜπότσης, Σπυρίδων-Κάρολοςel
dc.date.accessioned2018-11-22T10:03:16Z
dc.date.available2018-11-22T10:03:16Z
dc.date.issued2018
dc.identifier.other18455
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11615/49617
dc.descriptionΣημείωση διαθέτη: το περιεχόμενο έχει λογοκριθεί από το/τη συγγραφέα.el
dc.language.isoenen
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internationalen
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/en
dc.subject.otherΗμιαγωγοίel
dc.subject.otherΒιομηχανία κατασκευώνel
dc.subject.otherΥπηρεσίες πληροφόρησης -- Επεξεργασία δεδομένωνel
dc.titleReliability and maintainability analysis in semiconductor manufacturingen
dc.typebachelorThesisen
heal.recordProviderΠανεπιστήμιο Θεσσαλίας - Βιβλιοθήκη και Κέντρο Πληροφόρησηςel
heal.academicPublisherΠανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανολόγων Μηχανικών.el
heal.academicPublisherIDuthen
heal.fullTextAvailabilitytrueen
dc.rights.accessRightsfreeen


Fichier(s) constituant ce document

Thumbnail

Ce document figure dans la(les) collection(s) suivante(s)

Afficher la notice abrégée

Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International
Excepté là où spécifié autrement, la license de ce document est décrite en tant que Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International