Mostrar el registro sencillo del ítem

dc.contributor.advisorΛυμπερόπουλος, Γεώργιοςel
dc.contributor.advisorΠαντελής, Δημήτριοςel
dc.contributor.advisorΣαχαρίδης, Γεώργιοςel
dc.creatorΣταματάκης, Απόστολος Γ.el
dc.creatorΜπότσης, Σπυρίδων-Κάρολοςel
dc.date.accessioned2018-11-22T10:03:16Z
dc.date.available2018-11-22T10:03:16Z
dc.date.issued2018
dc.identifier.other18455
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11615/49617
dc.descriptionΣημείωση διαθέτη: το περιεχόμενο έχει λογοκριθεί από το/τη συγγραφέα.el
dc.language.isoenen
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internationalen
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/en
dc.subject.otherΗμιαγωγοίel
dc.subject.otherΒιομηχανία κατασκευώνel
dc.subject.otherΥπηρεσίες πληροφόρησης -- Επεξεργασία δεδομένωνel
dc.titleReliability and maintainability analysis in semiconductor manufacturingen
dc.typebachelorThesisen
heal.recordProviderΠανεπιστήμιο Θεσσαλίας - Βιβλιοθήκη και Κέντρο Πληροφόρησηςel
heal.academicPublisherΠανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανολόγων Μηχανικών.el
heal.academicPublisherIDuthen
heal.fullTextAvailabilitytrueen
dc.rights.accessRightsfreeen


Ficheros en el ítem

Thumbnail

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

Mostrar el registro sencillo del ítem

Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International
Excepto si se señala otra cosa, la licencia del ítem se describe como Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International