Πλοήγηση Δημοσιεύσεις σε περιοδικά, συνέδρια, κεφάλαια βιβλίων κλπ. ανά Θέμα "Wafer maps"
Αποτελέσματα 1-1 από 1
-
Wafer Map Defect Pattern Recognition using Imbalanced Datasets
(2022)The accurate and automatic inspection of wafer maps is vital for semiconductor engineers to identify defect causes and to optimize the wafer fabrication process. This research work seeks to address the pattern recognition ...