Cycle time prediction in the Wafer Test Fab of a semiconductor manufacturing plant using an artificial neural network model

dc.contributor.advisor	Λυμπερόπουλος, Γεώργιος	el
dc.creator	Λογοθέτης, Γεώργιος Α.	el
dc.date.accessioned	2020-04-06T09:41:32Z
dc.date.available	2020-04-06T09:41:32Z
dc.date.issued	2020
dc.identifier.other	20272
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11615/52244
dc.description	Σημείωση διαθέτη: το περιεχόμενο έχει λογοκριθεί από το/τη συγγραφέα.	el
dc.language.iso	en	en
dc.rights	Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International	en
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/	en
dc.subject.other	Ημιαγωγοί	el
dc.subject.other	Βιομηχανία κατασκευών	el
dc.subject.other	Ηλεκτρονική επεξεργασία δεδομένων	el
dc.subject.other	Νευρωνικά δίκτυα	el
dc.title	Cycle time prediction in the Wafer Test Fab of a semiconductor manufacturing plant using an artificial neural network model	en
dc.type	bachelorThesis	en
heal.recordProvider	Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας - Βιβλιοθήκη και Κέντρο Πληροφόρησης	el
heal.academicPublisher	Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Μηχανολόγων Μηχανικών.	el
heal.academicPublisherID	uth	en
heal.fullTextAvailability	true	en
dc.rights.accessRights	free	en
dc.contributor.committeeMember	Παντελής, Δημήτριος	el
dc.contributor.committeeMember	Σαχαρίδης, Γεώργιος	el

Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International