Controlling point defects for nanoelectronic applications

Ελαττώματα σημείων ελέγχου για νανοηλεκτρονικές εφαρμογές

dc.contributor.advisor	Χροναίος, Αλέξανδρος	el
dc.contributor.author	Σπύρου, Άγγελος Κ.	el
dc.creator	Σπύρου, Άγγελος Κ.	el
dc.date.accessioned	2023-11-08T09:10:57Z
dc.date.available	2023-11-08T09:10:57Z
dc.date.issued	2023
dc.identifier.other	28364	en
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11615/82974
dc.language.iso	en	en
dc.rights	Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International	*
dc.rights	free	en
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/	*
dc.title	Controlling point defects for nanoelectronic applications	en
dc.title	Ελαττώματα σημείων ελέγχου για νανοηλεκτρονικές εφαρμογές	el
dc.type	bachelorThesis	en
heal.recordProvider	Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας - Βιβλιοθήκη και Κέντρο Πληροφόρησης	el
heal.academicPublisher	Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών.	el
heal.academicPublisherID	uth
heal.fullTextAvailability	true	en
dc.rights.accessRights	free	en
dc.contributor.committeeMember	Δασκαλοπούλου, Ασπασία	el
dc.contributor.committeeMember	Τσαλαπάτα, Χαρίκλεια	el

Except where otherwise noted, this item's license is described as Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International