Controlling point defects for nanoelectronic applications
Ελαττώματα σημείων ελέγχου για νανοηλεκτρονικές εφαρμογές
dc.contributor.advisor | Χροναίος, Αλέξανδρος | el |
dc.contributor.author | Σπύρου, Άγγελος Κ. | el |
dc.creator | Σπύρου, Άγγελος Κ. | el |
dc.date.accessioned | 2023-11-08T09:10:57Z | |
dc.date.available | 2023-11-08T09:10:57Z | |
dc.date.issued | 2023 | |
dc.identifier.other | 28364 | en |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11615/82974 | |
dc.language.iso | en | en |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International | * |
dc.rights | free | en |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ | * |
dc.title | Controlling point defects for nanoelectronic applications | en |
dc.title | Ελαττώματα σημείων ελέγχου για νανοηλεκτρονικές εφαρμογές | el |
dc.type | bachelorThesis | en |
heal.recordProvider | Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας - Βιβλιοθήκη και Κέντρο Πληροφόρησης | el |
heal.academicPublisher | Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών. | el |
heal.academicPublisherID | uth | |
heal.fullTextAvailability | true | en |
dc.rights.accessRights | free | en |
dc.contributor.committeeMember | Δασκαλοπούλου, Ασπασία | el |
dc.contributor.committeeMember | Τσαλαπάτα, Χαρίκλεια | el |
Dateien zu dieser Ressource
Das Dokument erscheint in:
-
Τεκμήρια υπό επεξεργασία [1084]