Reliability analysis of large-scale ICs under radiation-induced soft errors
Ανάλυση αξιοπιστίας ολοκληρωμένων κυκλωμάτων μεγάλης τάξης υπό την επίδραση μεταβατικών σφαλμάτων εξαιτίας της ακτινοβολίας
Προβολή/
Όνομα μέλους επιτροπής
Δαδαλιάρης, Αντώνιος
Καρακωνσταντής, Γεώργιος
Όνομα Επιβλέποντος
Σταμούλης, Γεώργιος
Ημερομηνία
2025Γλώσσα
en
Πρόσβαση
ελεύθερη
Ακαδημαϊκός Εκδότης
Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών.
Collections
- Τεκμήρια υπό επεξεργασία [5742]
Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International