Advanced electromigration analysis methods for long-term reliability and hardware security in complex VLSI interconnects
Προηγμένες μέθοδοι ανάλυσης ηλεκτρομετανάστευσης για μακροχρόνια αξιοπιστία και ασφάλεια υλικού σε πολύπλοκες διασυνδέσεις ολοκληρωμένων κυκλωμάτων
Προβολή/
Όνομα μέλους επιτροπής
Σταμούλης, Γεώργιος
Κολομβάτσος, Κωνσταντίνος
Δαδαλιάρης, Αντώνιος
Παναγόπουλος, Γεώργιος
Καρακωνσταντής, Γεώργιος
Τσορμπατζόγλου, Ανδρέας
Όνομα Επιβλέποντος
Ευμορφόπουλος, Νέστωρ
Ημερομηνία
2025Γλώσσα
en
Πρόσβαση
ελεύθερη
Ακαδημαϊκός Εκδότης
Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών.
Collections
- Τεκμήρια υπό επεξεργασία [5724]
Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International