Physics-based electromigration analysis and mitigation for long-term reliability of VLSI interconnects
Ανάλυση ηλεκτρομετανάστευσης με μοντέλα φυσικής και άμβλυνση επιπτώσεων για τη μακροχρόνια αξιοπιστία ολοκληρωμένων κυκλωμάτων
Προβολή/
Όνομα μέλους επιτροπής
Σταμούλης, Γεώργιος
Κολομβάτσος, Κωνσταντίνος
Ποταμιάνος, Γεράσιμος
Χροναίος, Αλέξανδρος
Παναγόπουλος, Γεώργιος
Δημητράκης, Παναγιώτης
Όνομα Επιβλέποντος
Ευμορφόπουλος, Νέστωρ
Ημερομηνία
2024Γλώσσα
en
Πρόσβαση
ελεύθερη
Ακαδημαϊκός Εκδότης
Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας. Πολυτεχνική Σχολή. Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών.
Collections
- Τεκμήρια υπό επεξεργασία [5742]
Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International