Logo
    • English
    • Ελληνικά
    • Deutsch
    • français
    • italiano
    • español
  • Ελληνικά 
    • English
    • Ελληνικά
    • Deutsch
    • français
    • italiano
    • español
  • Σύνδεση
Προβολή τεκμηρίου 
  •   Ιδρυματικό Αποθετήριο Πανεπιστημίου Θεσσαλίας
  • Επιστημονικές Δημοσιεύσεις Μελών ΠΘ (ΕΔΠΘ)
  • Δημοσιεύσεις σε περιοδικά, συνέδρια, κεφάλαια βιβλίων κλπ.
  • Προβολή τεκμηρίου
  •   Ιδρυματικό Αποθετήριο Πανεπιστημίου Θεσσαλίας
  • Επιστημονικές Δημοσιεύσεις Μελών ΠΘ (ΕΔΠΘ)
  • Δημοσιεύσεις σε περιοδικά, συνέδρια, κεφάλαια βιβλίων κλπ.
  • Προβολή τεκμηρίου
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Ιδρυματικό Αποθετήριο Πανεπιστημίου Θεσσαλίας
Όλο το DSpace
  • Κοινότητες & Συλλογές
  • Ανά ημερομηνία δημοσίευσης
  • Συγγραφείς
  • Τίτλοι
  • Λέξεις κλειδιά

Seventy-Five Years since the Point-Contact Transistor: Germanium Revisited

Thumbnail
Συγγραφέας
Sgourou E.N., Daskalopulu A., Tsoukalas L.H., Stamoulis G., Vovk R.V., Chroneos A.
Ημερομηνία
2022
Γλώσσα
en
DOI
10.3390/app122311993
Λέξη-κλειδί
MDPI
Εμφάνιση Μεταδεδομένων
Επιτομή
The advent of the point-contact transistor is one of the most significant technological achievements in human history with a profound impact on human civilization during the past 75 years. Although the first transistor was made of germanium it was soon replaced by silicon, a material with lower intrinsic carrier mobilities but with a substantially better native oxide. Interestingly, more than two decades ago, germanium was once again considered as a mainstream microelectronic material, since the introduction of high-k dielectrics allowed the consideration of channel materials irrespective of the quality of their native oxide. After about 50 years of limited studies on the defect processes in germanium, the community once again focused on its applicability for mainstream electronic applications. Nevertheless, there are some bottlenecks that need to be overcome, and it was the aim of the present review to discuss the progress in the understanding of the defect processes of Ge. © 2022 by the authors.
URI
http://hdl.handle.net/11615/78915
Collections
  • Δημοσιεύσεις σε περιοδικά, συνέδρια, κεφάλαια βιβλίων κλπ. [19743]
htmlmap 

 

Πλοήγηση

Όλο το DSpaceΚοινότητες & ΣυλλογέςΑνά ημερομηνία δημοσίευσηςΣυγγραφείςΤίτλοιΛέξεις κλειδιάΑυτή η συλλογήΑνά ημερομηνία δημοσίευσηςΣυγγραφείςΤίτλοιΛέξεις κλειδιά

Ο λογαριασμός μου

ΣύνδεσηΕγγραφή (MyDSpace)
Πληροφορίες-Επικοινωνία
ΑπόθεσηΣχετικά μεΒοήθειαΕπικοινωνήστε μαζί μας
Επιλογή ΓλώσσαςΌλο το DSpace
EnglishΕλληνικά
htmlmap