Logo
    • English
    • Ελληνικά
    • Deutsch
    • français
    • italiano
    • español
  • Ελληνικά 
    • English
    • Ελληνικά
    • Deutsch
    • français
    • italiano
    • español
  • Σύνδεση
Προβολή τεκμηρίου 
  •   Ιδρυματικό Αποθετήριο Πανεπιστημίου Θεσσαλίας
  • Επιστημονικές Δημοσιεύσεις Μελών ΠΘ (ΕΔΠΘ)
  • Δημοσιεύσεις σε περιοδικά, συνέδρια, κεφάλαια βιβλίων κλπ.
  • Προβολή τεκμηρίου
  •   Ιδρυματικό Αποθετήριο Πανεπιστημίου Θεσσαλίας
  • Επιστημονικές Δημοσιεύσεις Μελών ΠΘ (ΕΔΠΘ)
  • Δημοσιεύσεις σε περιοδικά, συνέδρια, κεφάλαια βιβλίων κλπ.
  • Προβολή τεκμηρίου
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Ιδρυματικό Αποθετήριο Πανεπιστημίου Θεσσαλίας
Όλο το DSpace
  • Κοινότητες & Συλλογές
  • Ανά ημερομηνία δημοσίευσης
  • Συγγραφείς
  • Τίτλοι
  • Λέξεις κλειδιά

A Novel Genetic Algorithm for I/O Pad Planning Retaining Former Cell Positions

Thumbnail
Συγγραφέας
Kranas G.K., Kouskouras T.G., Dimitriadis V., Dossis M., Oikonomou P., Dadaliaris A.N.
Ημερομηνία
2020
Γλώσσα
en
DOI
10.1109/SEEDA-CECNSM49515.2020.9221794
Λέξη-κλειδί
Computer aided design
Computer networks
Integrated circuits
Social networking (online)
Cell connectivity
Design constraints
Design flows
Manufacturability
Novel genetic algorithm
Routability
Similar design
Wire length
Genetic algorithms
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Εμφάνιση Μεταδεδομένων
Επιτομή
In a typical integrated circuit (IC) design flow, each step is executed sequentially, and valuable feedback is provided that can be utilized if we are forced to backtrack as a means to resolve problems or satisfy design constraints and restrictions. Following a similar logic, the objective of our algorithm is to plan the I/O pad positions, based on back-annotated data gathered from a formerly placed similar design, concerning the cell connectivity and positioning, in order to minimize the total wirelength, a critical metric defining the routability, and thus the manufacturability of a design. Our approach results in the embetterment of the wirelength at an acceptable runtime. © 2020 IEEE.
URI
http://hdl.handle.net/11615/75504
Collections
  • Δημοσιεύσεις σε περιοδικά, συνέδρια, κεφάλαια βιβλίων κλπ. [19743]
htmlmap 

 

Πλοήγηση

Όλο το DSpaceΚοινότητες & ΣυλλογέςΑνά ημερομηνία δημοσίευσηςΣυγγραφείςΤίτλοιΛέξεις κλειδιάΑυτή η συλλογήΑνά ημερομηνία δημοσίευσηςΣυγγραφείςΤίτλοιΛέξεις κλειδιά

Ο λογαριασμός μου

ΣύνδεσηΕγγραφή (MyDSpace)
Πληροφορίες-Επικοινωνία
ΑπόθεσηΣχετικά μεΒοήθειαΕπικοινωνήστε μαζί μας
Επιλογή ΓλώσσαςΌλο το DSpace
EnglishΕλληνικά
htmlmap